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过炉治具测试对环境的要求

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过炉治具测试对环境的要求

发布日期:2015-11-02 00:00 来源:http://www.dghemeng.com 点击:

   高速数字电路测试,ICT测试过炉冶具系统还具有完善的解决方案,完全满足高速CPU和网络处理器的测试要求。然而,高速电路的测试不仅测试系统的要求的能力,同时也提出了更高的要求,对整个测试环境。

   但高速传输环境下,电感电容效应和所传递的信息引起的失真的影响,无论是数据传输到芯片的内部或外部的芯片的应用,我们可以预见的传输线在高速环境的重要材料和电气特性。

   在芯片的测试环境,包括测试系统,设备如喂料机/负载板或探针卡的探针/主要因素和芯片本身,在整个测试过程中,测试系统发出相应的测试向量,通过加载板、探针卡芯片的输入端,然后接收芯片的输出通过内部逻辑运算芯片的结果来判断测试的正确性。

   一般来说,我们将首先面临输电线路的问题,不同材料的传输线,其电容、电感特性的相关特性是不相同的,在低速传输环境的ICT测试治具,该传输线本身的电容电感的影响,信息传递的效果没有太大的影响。

   这个过程看似简单,但在高速的环境下,通信接口测试过炉治具和设备或设备和芯片之间的接口协议的程度之间的测试系统,为切入点,或每一个不同的其它电气特性,会导致阻抗匹配问题,以阻抗匹配使,阻抗特性可以用匹配电路来补偿两侧接口的每个接口之间,如果其中一方是开路,在端点加终端电阻必须避免全反射信号。

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