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功能测试治具的测试方法是怎样的

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功能测试治具的测试方法是怎样的

发布日期:2016-01-07 00:00 来源:http://www.dghemeng.com 点击:

     功能测试治具主要是用于测试元器件电阻、短路等故障的,能够在短短的数秒钟内,全检出组装电路板上零件:电阻、电容、电感、电晶体、FET、LED普通二极体、稳压二极体、光藕器、IC等零件,是否在我们设计的规格内运作。

  测试治具能够在短时间内测试出产品的不良,如组件漏件、反向、错件、空焊、短路等问题,将这些问题以印表机印出测试结果,包括故障位置、零件标准值、测试值,以供维修人员参考。

  测试治具的功能测试是依据控制模式的不同。根据不同的操作方式可以分为全自动控制功能测试、手动控制功能测试、半自动控制功能测试,最早的功能测试是以传统的手动和半自动方式为主。

  为了简化测试治具的设计和降低制作成本,目前还有很多厂家对于一些简单的测试产品的功能测试,还是采用手动或者半自动的工装测试夹具测试的方案,不过大部分使用的还是全自动测试治具。

  ICT和测试治具嵌入式控制方式的特点在于:测试执行速度快、测试操作简单直接、显示和数据输出需要特别专用电路和程序、测试方案针对性强、测试软件修改方便。

  测试治具对技术要求较低,即使对产品不太解,也可以将测试不良的消息进行统计,生产管理人员加以分析,可以找出各种不良的产生原因,包括人为的因素在内,使之各个解决、完善、指正,藉以提升电路板制造及品质能力。

    另一种更普遍的分类是依据功能测试的控制器类型来分,在功能测试中通常用的控制方式有ICT控制方式、嵌入式ICT控制方式等,其中,ICT控制方式可以视作简单的嵌入式控制。 

     正因为如此,所以功能测试治具的功能强大,能给客户带来巨大的效益,也能得到广泛的运用。

  

功能测试治具

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