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ICT测试治具测试读取时间的方法

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ICT测试治具测试读取时间的方法

发布日期:2016-06-06 00:00 来源:http://www.dghemeng.com 点击:

       ICT测试治具测试读取时间有什么方法呢?捷甫电子总结出以下的内容,希望对各位有所帮助!

  从内存单元读取数据所需的时间,ICT测试治具的存储器读取时间。ICT测试治具测试读取时间的方法一般如下所示:

  1、往单元A写入数据"0";

  2、往单元B写入数据"1";

  3、坚持REA D为使能状态并读取单元A值;

  4、地址转换到单元B;实质上就是ICT测试治具丈量内存数据的坚持时间

  5、转换时间就是从地址转换开始到数据变换之间的时间;

  6、写入恢复时间--写操作之后的能读取某一内存单元所必须等待的时间;

  7、暂停时间--内存单元能保持它状态的时间。

  8、刷新时间--刷新内存的最大允许时间;

  9、建立时间--输入数据转换必需提前锁定输入时钟的时间;

  10、坚持时间--锁定输入时钟之后输入数据必需坚持的时间。

  同时改变ICT测试治具的测试周期,通过反复运行功能测试。来测试器件运行的速度,周期和频率通常通过二进制搜索的方法来进行变化,频率测试的目的找到器件所能运行的最快速度。


相关标签:ICT治具

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